By Feldman L.C., Mayer J.W., Picraux S.T.
Среди разнообразных методов исследования структуры поверхности в последние годы \nуспешно применяются методы, основанные на изучении характеристик рассеяния ионов. \nМонография L.Feldman, J. Mayer, T. Picraux , «Каналирование ионов в исследовании материалов» посвящена очень широкому кругу вопросов по исследованию структурных дефектов поверхности и объема монокристаллов. L. Feldman - широко известный специалист в области физики поверхности и является родоначальником использования явления каналирования ионов для изучения структуры поверхности и тонких поверхностных слоев. \nКнига состоит из nine глав и обширной библиографии, содержащей более 800 наименований. В первых четырех главах рассмотрены физические основы применения каналирования ионов для изучения дефектов кристаллической структуры, рассмотрено взаимодействие ионных пучков с поверхностью кристаллов, физика явления каналирования, рассеяние ионов на дефектах. Однако наибольший интерес представляют последующие главы, в которых на разнообразных примерах рассмотрены возможности метода ионных пучков и их каналирования для изучения структуры поверхности, имплантированных и эпитаксиальных слоев, распределения дефектов в объеме кристаллов.
Read or Download Materials Analysis by Ion Channeling. Submicron crystallography PDF
Best analysis books
Weak Continuity and Weak Semicontinuity of Non-Linear Functionals
Ebook by way of Dacorogna, B.
Nonstandard research used to be initially constructed by means of Robinson to scrupulously justify infinitesimals like df and dx in expressions like df/ dx in Leibniz' calculus or maybe to justify options resembling [delta]-"function". despite the fact that, the process is way extra normal and used to be quickly prolonged by way of Henson, Luxemburg and others to a great tool specially in additional complicated research, topology, and useful research.
Understanding Gauguin: An Analysis of the Work of the Legendary Rebel Artist of the 19th Century
Paul Gauguin (1848-1903), a French post-Impressionist artist, is now well-known for his experimental use of colour, synthetist sort , and Tahitian work. Measures eight. 5x11 inches. Illustrated all through in colour and B/W.
- A Laboratory Guide to Glycoconjugate Analysis
- Physics Reports vol.266
- Methods of analysis and solutions of crack problems: Recent developments in fracture mechanics Theory and methods of solving crack problems
- Flow Visualization and Image Analysis
- Traite des fonctions elliptiques
Additional resources for Materials Analysis by Ion Channeling. Submicron crystallography
Sample text
6. 14. h. f (t) = (f1 (t), . . , fm (t)) mit t ∈ R. Die Linearisierung t → fˆ(t) = f (t¯)+f (t¯)(t− t¯) in t¯ entspricht einer Geraden in Rm durch den Punkt f (t¯) und die JacobiMatrix f (t¯) = (f1 (t¯), . . , fm (t¯)) entspricht der Richtung der Tangente der Kurve f : R → Rm in f (t¯), vgl. Abb. 7. 7 Die Kettenregel 827 x2 s (t) s(b) s(t) a t b t s(a) x1 Abb. 7. 7 Die Kettenregel Seien g : Rn → Rm und f : Rm → Rp gegeben. Wir betrachten die zusammengesetzte Funktion f ◦g : Rn → Rp , die durch f ◦g(x) = f (g(x)) definiert ist.
Wir berechnen ∂f ∂f (¯ x) = ex¯2 sin(¯ x3 ), (¯ x) = x ¯1 ex¯2 sin(¯ x3 ), ∂x1 ∂x2 ∂f (¯ x) = x ¯1 ex¯2 cos(¯ x3 ) ∂x3 und somit f (¯ x) = (ex¯2 sin(¯ x3 ), x ¯1 ex¯2 sin(¯ x3 ), x ¯1 ex¯2 cos(¯ x3 )). 11. Sei f : R3 → R2 mit f (x) = exp(x21 + x22 ) sin(x2 + 2x3 ) gegeben. Wir berechnen f (x) = 2x1 exp(x21 + x22 ) 2x2 exp(x21 + x22 ) 0 cos(x2 + 2x3 ) 0 . 6 Jacobi-Matrix, Gradient und Tangente 825 Wir haben nun die Berechnung von Elementen der Jacobi-Matrix vorgestellt, indem wir die u ur die Ableitung nach einer reellen ¨ blichen Regel f¨ Variablen anwenden.
Die H¨ ohenlinien der Funktion u(x) = x21 + x22 sind Kreise 2 2 ohenlinien der Funktion u(x) = 2x21 + x22 x1 + x2 = c mit c ≥ 0. Die H¨ 2 2 sind die Ellipsen 2x1 + x2 = c mit c ≥ 0. Die H¨ohenlinien der Funktion u(x) = x21 − x2 sind die Parabeln x2 = x21 − c mit konstantem c. 2. Eine gute Wanderkarte enth¨ alt die H¨ohenlinien der Funktion u : R2 → R, die der H¨ ohe eines Punktes x ∈ R2 relativ zur Meeresh¨ohe entspricht. Der H¨ ohenunterschied zwischen zwei benachbarten Linien ist u ohenunterschied zwischen zwei Punkten kann ¨ blicherweise 10 Meter.